＊１ＥＰＭＡ（ｅｌｅｃｔｒｏｎ ｐｒｏｂｅ ｍａｉｃｒｏａｎａｌｙｓｅｒ： エレクトロンプルーブ・マイクロアナライザー，または，Ｘ−ｒａｙ　ｍｉｃｒｏａｎａｌｙｓｅｒ：Ｘ線マイクロアナライザーともいう）

真空中で試料に電子線を照射して，微小部分の化学組成分析をする装置。

電子線を照射すると，試料に含まれる各元素に特有な波長の特性Ｘ線が発生する。その波長と強度を測定し，元素の種類，含有量を求める。

これにより，微細な鉱物粒子等の観察・分析が可能である。したがって，テフラの詳細な対比に有効な手段となる。

＊２ＩＣＰ（ｉｎｄｕｃｔｉｖｅｌｙ ｃｏｕｐｌｅｄ ｐｉａｓｍａ ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ：誘導結合プラズマ分析法）

誘導結合プラズマ（ＩＣＰ）とは，アルゴンなどの希ｶﾞｽ中に高周波をかけることにより生成した炎状の放電のこと。この中に試料を導入し，イオン化した元素を質量分析するのがＩＣＰ質量分析法である。

元素濃度と同位体比を，極めて高感度（ｐｐｔ，ｐｇ／ｍｌ　レベル）で迅速に分析可能である。

岩石・鉱物の分析に広く応用され，テフラの分析・同定にも有効である。

図３−６−１深層ボーリングによる地質断面図とテフラ（断面：Ａ）

図３−６−２深層ボーリングによる地質断面図とテフラ（断面：Ｂ）