ｔｉｔｌｅ

２－３－１　探査仕様
電気探査は，活断層の位置，断層による地層の変位量および地下構造を明らかにする目的で，二次元比抵抗探査および比抵抗トモグラフィを実施した。二次元比抵抗探査および比抵抗トモグラフィの仕様は，表２－５に示すとおりである。

表２－５　電気探査の仕様

表２－６　使用した比抵抗測定機器の仕様